- 부품 번호SN74BCT8374ADWR
- 상표Texas Instruments
- 수명 주기 상태 Active
- RoHS RoHS Compliant
- 설명IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- 범주논리-특수 논리
재고: 3,789
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기술적 세부 사항
- 시리즈:74BCT
- 꾸러미:Tape & Reel (TR)
- 부품 상태:Obsolete
- 논리 유형:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- 전원 전압:4.5V ~ 5.5V
- 비트 수:8
- 작동 온도:0°C ~ 70°C
- 장착 유형:Surface Mount
- 패키지 / 케이스:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- 공급자 장치 패키지:24-SOIC
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